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描述：Hiden SIMS二次離子質(zhì)譜工作站提供高性能靜態(tài)和動(dòng)態(tài) SIMS 分析，用于的表面成份分析和深度剖析。
SIMS 工作站(SIMS Workstation－a complete SIMS Analysis Facility) ，綜合UHV / SIMS 設(shè)備，進(jìn)行高級(jí)的表面分析?？煽康摹⑵毡檫m用的SIMS分析工作站。
·整合的離子源，便于RGA和SNMS ·各類型樣品的快速轉(zhuǎn)向 ·陰、陽(yáng)離子、中性粒子、自由基的質(zhì)量、能量分析儀 ·整合的離子槍光柵控制和信號(hào)選通，進(jìn)行深度分析
·Hiden EQS SIMS 分析儀，運(yùn)行于 MASsoft O/S 之下，檢測(cè)限至ppb級(jí) ·基本的激發(fā)源選擇： 帶差式泵的Hiden IG20 Ion，IFG200 FAB或高性能液態(tài)鎵槍 Mass Spectrometers for Thin Films, Plasma and Surface Engineering (1.1 MB) SIMS Brochure TI 181 HiRes (5.64 MB) Tour of the Hiden SIMS Workstation (6.22 MB) Instruments for diagnostics and analysis of thin films Analysis of Metal-Polymer Interfaces in Thin Film Capacitors by Dynamic Quadrupole SIMS (380 KB) Analysis of MOCVD-Grown GaInP/Ga(ln)As/Ge Triple Junction Solar Cells by SIMS (182 KB) Combined SIMS SNMS Poster (1.08 MB) High Performance SIMS - Mass and Energy Analyser for SIMS - A2 (584 KB) High Performance SIMS - Mass and Energy Analyser for SIMS - A3 (339 KB) |
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